【2025年2月20日】冷冻电镜观察锂电池材料与界面

王雪锋

主讲人

王雪锋，中国科学院物理研究所特聘研究员、博士生导师。2016年博士毕业于中国科学院物理研究所，之后在美国加州大学圣地亚哥分校完成博士后工作。2019年入职中国科学院物理研究所。主要从事高能量密度锂离子电池和全固态电池等关键材料结构表征、机理研究和失效分析，尤其擅长采用冷冻电镜技术研究辐照敏感材料。至今已在Nature、Nature Materials、Nature Energy、Chemical Reviews、Joule、Energy & Environmental Science、Journal of American Chemical Society、Nano Letter、Nano Energy等国际知名学术期刊上发表学术论文130余篇，引用13600余次，H指数62。

讲座简介

冷冻电镜（cryo-EM）技术已逐渐是电池领域研究的必备工具。冷冻或低温不仅可以有效地缓解高能电子束对样品造成的辐照损伤，而且可以大幅度地降低样品的反应活性，提高样品的稳定性。冷冻电镜可以为辐照敏感材料提供纳米、甚至是原子尺度的微观结构信息。本报告将重点介绍冷冻电镜在分析锂离子电池失效机制的相关应用和成果，包括冷冻聚焦离子束-扫描电子显微镜（cryo-FIB-SEM）和冷冻透射电子显微镜（cryo-TEM），以便进一步了解冷冻电镜在解析电池工作机理和指导材料结构设计等方面所发挥的优势和作用。报告人将重点介绍冷冻电镜在石墨、硅、金属锂负极界面演变与恶化和全固态电池中固-固界面等方面的应用与成果。冷冻电镜技术的发展将有助于解析电池材料与界面结构，了解电池运行和失效机制，从而促进高比能和高安全性电池的发展。